掌握「表面微粒子污染」關鍵，打造高潔淨無塵室

關鍵字 #無塵室 #表面汙染 #微粒子

很多品質或製程的管理人員都會遇到一個很現實的問題：

Q: 環境微粒子我管控好了，空氣品質達標了，但產品依然會遇到particle導致的良率問題，那這些particle到底是從哪裡來的呢？
A:答案就是：一切有可能與產品接觸的物體表面！


以往無塵室或工廠對表面微粒子管控不足的原因是：
1：技術水準相對不高，空氣微粒子背景環境管控好了，產品良率基本能被接受，沒必要做過多的程式管控；
2：沒有一個更好的辦法或工具，來實現對表面微粒子的管控。

但現況已與過往大為不同！！！

隨著產品技術含量的漸趨提升，無塵室環境的製程與品質管理需要更高規格、更嚴謹的管控要求，以符合要求，同時提高產品良率！
然而，不單單僅有環境的中微粒需要管控，對於空間範圍內的表面微粒子污染也相當需要被檢測！

其實對於物體表面（如機台、零件、包材、來料、產品等）微粒子的管控，多年來大家都已著手執行！例如：設備的定期預防性維 (PM) 等，
只不過沒有一個標準來評定這樣的管控是否合格？是否達標？

曾經多位資深的設備管理人員說：
以前PM的標準，就是擦到設備發亮！

而耀群擁有一套非常優秀的工具— QIII表面潔淨度量測儀
有了這項設備，可以為工廠或無塵室環境提供可靠的表面微粒子污染資料支撐，告別「發亮標準」的時代，掀開一切以科學數據資料說話的新篇章！