表面

第 1 到 4 筆。共 4 筆。

QIII ST

SPC 表面潔淨度量測儀
QIII為世界專利,採接觸式、量測物體表面Particle數量的設備!
半導體,面板廠,設備商與所有PARTS CLEAN廠商,驗證PARTS表面是否乾淨的檢驗標準工具!

QIII SM

SPC 表面潔淨度量測儀
QIII為世界專利,採接觸式、量測物體表面Particle數量的設備!
半導體,面板廠,設備商與所有PARTS CLEAN廠商,驗證PARTS表面是否乾淨的檢驗標準工具!

QIII SX

SPC 表面潔淨度量測儀
QIII為世界唯一專利,採接觸式、量測物體表面Particle數量的設備!
半導體,面板廠,設備商與所有PARTS CLEAN廠商,驗證PARTS表面是否乾淨的唯一檢驗標準工具!

QIII Probes

SPC 表面潔淨度量測儀
QIII為世界唯一專利,採接觸式、量測物體表面Particle數量的設備!
半導體,面板廠,設備商與所有PARTS CLEAN廠商,驗證PARTS表面是否乾淨的唯一檢驗標準工具!