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奈米粒徑分布及表面電位
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LS13320 雷射粒徑分布分析儀

LS13320

雷射粒徑分布分析儀

產品說明
  • 雷射器為先進的高功率光纖連接固體光源,壽命長 ·專利的雙透鏡技術,準確收集高角度的散射光訊號 ·可同時採用 4 個波長 (450nm, 600nm, 780nm 及 900nm) 及高角度背散射測量
  • 檢測器數目高達 132 枚
  • 專利的偏振光 (PIDS) 配合背散射系統極大提高了奈米測量的靈敏度準確性與解析度
  • 先進的自動對接切換系統可在數秒內更換乾式或不同濕式樣品台
  • 濕式樣品台為全程全自動設計,液體的灌注、排空、除泡、管道沖洗、加樣監控等全自動循環進行,無須人工守候。
規格說明
分析原理 雷射散射, 多波長散射(PIDS)
雷射光源 光纖連接的固態雷射, 功率: 5 mW
分析範圍 單波長:0.4μm-2000μm(實測值)
多波長:17nm-2000μm(實測值)
報告形式 粒徑 - 體積百分(重量百分數)分佈;
粒徑 - 數量百分分佈;
粒徑 - 表面積百分分佈;
粒徑 - 累積百分分佈;微分分佈;
檢測器數目與分析通道數 132枚光電檢測器,116個分析通道
準確性誤差 <+/- 0.5%
再現性誤差 <+/- 0.5%
選配量測類型 1.大容量粒徑量測模組
2.30 位高通量自動化樣品處理
3.旋風式(Tornado)無損量測乾粉粒徑
4.有機介質粒徑量測
5.微量樣品粒徑量測
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